Strumento per misure in situ combinate in scansione di spettroscopia di fluorescenza a raggi X e di spettroscopia Vis-NIR in riflessione. La spettroscopia di fluorescenza a raggi X a scansione (MAXRF) consente la mappatura multi-elementale (elementi con numero atomico Z>12) di macro-aree sulla superficie di un manufatto in modo non invasivo. In modo analogo l’analisi in scansione mediante spettroscopia Vis-NIR in riflessione consente l’acquisizione di immagini iperspettrali in un ampio intervallo spettrale (400-2500nm) che forniscono informazioni sia sulla distribuzione e che sulla natura chimica di pigmenti e, in generale, di componenti inorganiche (bande elettroniche, bande vibrazionali armoniche e di combinazione), e di componenti organiche (bande vibrazionali armoniche e di combinazione dei materiali organici naturali e sintetici) presenti sulla superficie indagata. In IRIS l’informazione ottenuta dalle due tecniche viene raccolta in modo combinato per ogni punto della superficie scansionata integrando l’informazione chimica elementare con quella molecolare.

Spettroscopia ottica ed elettrica sotto intenso campo magnetico e a bassa temperatura

Cromatografo ionico Metrohm EcoIC per l'analisi degli ioni (positivi e/o negativi) presenti in soluzioni acquose, completo di autocampionatore con 36 postazioni. Questo strumento può essere utilizzato per analisi ambientali, farmaceutiche, nonché per l'analisi dell'acqua e delle acque reflue, nell'industria alimentare e delle bevande, chimica e di produzione di energia, nonché nella ricerca e nel mondo accademico. Possibilità di montare sia colonne cationiche che anioniche, da identificarsi opportunamente a seconda dell'applicazione. Sono quantificabili sia ioni inorganici (nitrati, nitriti, fosfati, solfati, cloruri, floruri, sodio, calcio, magnesio, litio, rame, zinco, potassio, cobalto, solo per citarne alcuni) che molti ioni organici (ad esempio ammonio, sali di ammine, formiati, ossalati, citrati). Il detector è costituito da un conduttivimetro e, per l'analisi degli anioni, lo strumento è dotato del Metrohm Suppressor Module (MSM) per ridurre la conducibilità dell'eluente e massimizzare il segnale degli analiti. A seconda degli ioni, la sensibilità arriva a poche decine di ppb (ad esempio con l'ammonio), mentre normalmente lo strumento opera al meglio con concentrazioni di ioni comprese tra meno di una ppm e poche centinaia di ppm. Per ulteriori informazioni visitare il sito internet del Centro MIB-SOLAR: https://mibsolar.unimib.it/servizi-per-aziende-e-centri-di-ricerca/

Criostato ottico a ciclo chiuso con camera campione da 50 mm e accesso ottico/elettrico configurabile. Opera in un intervallo di temperatura tra 4 e 300 K, con piattaforma a basse vibrazioni, adatto a misure ottiche e spettroscopiche su materiali e dispositivi quantistici. E' dotato di modulo magneto-ottico che consente l’applicazione di un campo magnetico fino a 0.7 T, mantenendo accesso ottico tramite porte dedicate.

Lo strumento permette di acquisire la figura di diffrazione di cristalli singoli (dimensioni min e max 0,1-0,5 mm) organici e inorganici allo scopo di: 1) determinare i parametri della cella elementare e il gruppo spaziale; 2) raccogliere i dati necessari a ottenere 3) le coordinate atomiche nel solido cristalllino attraverso 4) la risoluzione della struttura. Il diffrattometro è dotato di: rivelatore image plate curvo, fotomoltiplicatore per la lettura delle intensità diffratte, movimenti goniometrici, tubo a raggi X con anticatodo al molibdeno, personal computer per il controllo dello strumento e per l’elaborazione dei dati, criostato Oxford Cryosystems N700 Plus per il controllo della temperatura del campione da 80 a 490 K, software per la gestione dello strumento e per l'elaborazione dei dati. Inoltre è presente il software per l’acquisizione di dati di diffrazione da polveri microcristalline in capillare.

Misure di diffrazione di polveri e film policristallini.

Analisi di fase qualitativa e quantitativa in composti policristallini

È un ellissometro ad angolo di incidenza variabile accurato e versatile con cui è possibile caratterizzare campioni solidi di diversa natura (semiconduttori, dielettrici, polimeri, metalli) e tipologia (bulk, film sottili, multi-layer).

Caratteristiche:
- autoretarder e ottiche di focalizzazione dello spot (~ 200 micron) per la determinazione delle funzioni ottiche di campioni solidi;
- range spettrale: 193 nm - 1700 nm (UV-Vis-NIR);
- software di analisi: WVASE32 (Woollam Inc. Corporation).

Configurazioni disponibili:
- ellissometria in trasmissione e in riflessione;
- misure di riflettività speculare a singolo raggio (angolo di incidenza: 15°/75°).

Applicazioni principali:
- determinazione delle funzioni ottiche (indice di rifrazione n e coefficiente di estinzione k) e delle caratteristiche della superficie (es. rugosità) di campioni bulk isotropi e anisotropi;
- studio dei coating (mono o multistrato) su campioni bulk isotropi e anisotropi (determinazione delle funzioni ottiche, dello spessore e la modellizzazione del campione).

Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it

Preparazione di film sottili inorganici.
L'apparecchiatura consente la deposizione di film sottili di vari materiali (metalli e semiconduttori) utilizzando un fascio elettronico per l'evaporazione del materiale. La tecnica consente ratei di crescita relativamente elevati tali da permettere la deposizione di film con spessori micrometrici su piccole aree (dell'ordine del cm2).
L'evaporatore trova tipicamente applicazione nella realizzazione di contatti elettrici o nella deposizione di film sottili per impieghi in ambito energetico, catalitico e di protezione delle superfici.

Laser amplificato per emissione di impulsi di luce a femtosecondi nell'infrarosso (lunghezza d'onda = 1030 nm) ad alta potenza (10 W) ed elevato rate di ripetizione (600 kHz)