Lo strumento in dotazione è un Nanoscope V Multimode Atomic Force Microscope (Veeco), equipaggiato con scanner PZT per scansioni da 5 nm a 140 micron e un rivelatore ottico con fotodiodo quattro quadranti. Si usano diverse miscroscopie a scansione di sonda, principalmente microscopia a forza atomica, per caratterizzare la morfologia superficiale dei campioni e altre grandezze su scala micrometrica e nanometrica.

Strumento per misure di assorbimento e desorbimento dinamico di umidità. In particolare applicato alla datazione con reidrossilazione (ceramics rehydroxilation dating)

Strumentazione per misure elettriche di capacità-voltaggio e corrente-voltaggio

Apparato di Breakthrough Alfatest. Lo strumento permette di valutare la capacità di materiali porosi di catturare selettivamente e separare gas a partire da miscele, oltre allo stoccaggio di gas.

Crescita di film sottili organici in condizioni controllate mediante la tecnica di deposizione da fasci molecolari organici (OMBE).
L’apparato è costituito da una camera di introduzione, una camera di metallizzazione e la camera di crescita, con quattro sorgenti per diversi materiali, completa di microbilancia al quarzo per il controllo in-situ dello spessore dei film (range da 1 Å a decine di nm). Il vuoto limite che può essere raggiunto in camera di crescita è di ~ 5x10-10 mbar tramite una criopompa . Un sistema di raffreddamento e di riscaldamento del substrato permettono di variare la temperatura del substrato in un range compreso tra 77 K e 900 K. La camera di crescita è inoltre dotata di una finestra BOMCO di quarzo per misure ottiche in-situ e in tempo reale.
L'apparato è equipaggiato da un'ulteriore camera di crescita (dotata di un'unica sorgente) che raggiunge il vuoto limite di ~ 1x10-7 mbar.

Cluster Ibrido in architettura X86/CPU per Simulazioni computazionali

Strumentazione per la deposizione di singoli strati atomici per la fabbricazione di dispositivi a semiconduttore

Gas cromatografo in fase gassosa CLARUS 590 GC

Infrastruttura di calcolo parallelo ad alte prestazioni per Simulazioni computazionali

Spettroscopia ottica ed elettrica sotto intenso campo magnetico e a bassa temperatura