Strumento per misure di assorbimento e desorbimento dinamico di umidità. In particolare applicato alla datazione con reidrossilazione (ceramics rehydroxilation dating)

Strumentazione per misure elettriche di capacità-voltaggio e corrente-voltaggio

Apparato di Breakthrough Alfatest. Lo strumento permette di valutare la capacità di materiali porosi di catturare selettivamente e separare gas a partire da miscele, oltre allo stoccaggio di gas.

Crescita di film sottili organici in condizioni controllate mediante la tecnica di deposizione da fasci molecolari organici (OMBE).
L’apparato è costituito da una camera di introduzione, una camera di metallizzazione e la camera di crescita, con quattro sorgenti per diversi materiali, completa di microbilancia al quarzo per il controllo in-situ dello spessore dei film (range da 1 Å a decine di nm). Il vuoto limite che può essere raggiunto in camera di crescita è di ~ 5x10-10 mbar tramite una criopompa . Un sistema di raffreddamento e di riscaldamento del substrato permettono di variare la temperatura del substrato in un range compreso tra 77 K e 900 K. La camera di crescita è inoltre dotata di una finestra BOMCO di quarzo per misure ottiche in-situ e in tempo reale.
L'apparato è equipaggiato da un'ulteriore camera di crescita (dotata di un'unica sorgente) che raggiunge il vuoto limite di ~ 1x10-7 mbar.

Cluster Ibrido in architettura X86/CPU per Simulazioni computazionali

Strumentazione per la deposizione di singoli strati atomici per la fabbricazione di dispositivi a semiconduttore

Gas cromatografo in fase gassosa CLARUS 590 GC

Infrastruttura di calcolo parallelo ad alte prestazioni per Simulazioni computazionali

Strumento per misure in situ combinate in scansione di spettroscopia di fluorescenza a raggi X e di spettroscopia Vis-NIR in riflessione. La spettroscopia di fluorescenza a raggi X a scansione (MAXRF) consente la mappatura multi-elementale (elementi con numero atomico Z>12) di macro-aree sulla superficie di un manufatto in modo non invasivo. In modo analogo l’analisi in scansione mediante spettroscopia Vis-NIR in riflessione consente l’acquisizione di immagini iperspettrali in un ampio intervallo spettrale (400-2500nm) che forniscono informazioni sia sulla distribuzione e che sulla natura chimica di pigmenti e, in generale, di componenti inorganiche (bande elettroniche, bande vibrazionali armoniche e di combinazione), e di componenti organiche (bande vibrazionali armoniche e di combinazione dei materiali organici naturali e sintetici) presenti sulla superficie indagata. In IRIS l’informazione ottenuta dalle due tecniche viene raccolta in modo combinato per ogni punto della superficie scansionata integrando l’informazione chimica elementare con quella molecolare.

Spettroscopia ottica ed elettrica sotto intenso campo magnetico e a bassa temperatura