Equipments
Microscopio elettronico a trasmissione Jeol JEM1220 (120kV)
Osservazione ultrastruttura campioni biologici, nanoparticelle
Molecular Beam Epitaxy con Sorgente al Plasma di Azoto
Sistema per epitassia da fasci molecolari con sorgente al plasma di azoto ad alta densità
Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto
Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto Anton Paar
NETZSCH DMA 242E
Strumento per Dynamical Mechanical Analysis
OCT REVO NX80 FC
Tomografo a coerenza ottica per analisi del fondo oculare combinato con Fundus Camera e biometro oculare
Ponte di impedenza per misure RLC e di costante dielettrica
Misuratore RLC (Resistenza, Induttanza, Capacità) di precisione dotato di accessorio per la misura della costante dielettrica di materiali nell’intervallo 20 Hz – 1 MHz.
Caratteristiche tecniche:
● da 20 Hz a 1 MHz test range;
● 0.05% di accuratezza base;
● alta velocità di misurazione: 15 ms.
Applicazioni principali:
● misura della costante dielettrica.
Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it
Profilometro a stilo Dektak 8 (Digital Instruments, Veeco)
Il profilometro a stilo Dektak 8 offre una ripetibilità di 7.5 angstrom e 1 sigma per una misurazione precisa dell'altezza di gradini con spessore da meno di 100 angstrom a 262 micron. L'opzione N-Lite permette allo stilo di applicare una forza minima di 0.03 mg (15 mg max), ottimale per la misurazione di film delicati come quelli polimerici. E' possibile misurare la rugosità sia lineare che di superficie (con elaborazione di mappe 3D) con elevata precisione, da superfici molto lisce (meno di 10 Å Ra) a superfici molto ruvide (rugosità di diverse centinaia di micron). Dimensione massima del wafer 20 mm di diametro, spessore massimo del campione 25.4 mm, lunghezza massima di scansione 50 mm, risoluzione verticale 1 Å max. Due stili disponibili, con diametro della punta di 2.5 e 12.5 micron (compatibile con stili di molte altre misure, anche submicrometrici). Per maggiori informazioni visitare il sito internet del Centro MIB-SOLAR: https://mibsolar.unimib.it/servizi-per-aziende-e-centri-di-ricerca/
Radio- e termo-luminescenza
Misure di radio- e termo-luminescenza risolte in lunghezza d’onda e in funzione della temperatura (10-320 K). Il campione indagato viene irraggiato con raggi X (di energia fra 10 e 32 keV) a temperatura controllata fra 10 e 320 K. Viene misurata la luce emessa a temperatura costante (radio-luminescenza) o durante una rampa di temperatura crescente (termo-luminescenza). In entrambe le configurazioni viene valutato anche lo spettro di emissione della luce emessa.
Reometro Anton Paar MCR 92
Misure reologiche e analisi dinamico-meccaniche
Reometro Kinexus Pro+
Reometro Kinexus Pro+
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