Equipments

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Microscopio elettronico a trasmissione Jeol JEM1220 (120kV)

Osservazione ultrastruttura campioni biologici, nanoparticelle

Edificio: U1, Piano: -2, Stanza: 2i41
Responsabile scientifico: MANTECCA PARIDE
Voci tariffario: P3
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Molecular Beam Epitaxy con Sorgente al Plasma di Azoto

Sistema per epitassia da fasci molecolari con sorgente al plasma di azoto ad alta densità

Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T070A
Responsabile scientifico: SANGUINETTI STEFANO
Voci tariffario: U.1; U.2
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Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto

Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto Anton Paar

Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T073
Responsabile scientifico: TAVAZZI SILVIA
Voci tariffario: B.2
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NETZSCH DMA 242E

Strumento per Dynamical Mechanical Analysis

Edificio: Comodato, Piano: , Stanza: Comodato
Responsabile scientifico: MUSTARELLI PIERCARLO
Voci tariffario: W.3
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OCT REVO NX80 FC

Tomografo a coerenza ottica per analisi del fondo oculare combinato con Fundus Camera e biometro oculare

Edificio: U9, Piano: 1, Stanza: 1017
Responsabile scientifico: TAVAZZI SILVIA
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Ponte di impedenza per misure RLC e di costante dielettrica

Misuratore RLC (Resistenza, Induttanza, Capacità) di precisione dotato di accessorio per la misura della costante dielettrica di materiali nell’intervallo 20 Hz – 1 MHz.
Caratteristiche tecniche:
● da 20 Hz a 1 MHz test range;
● 0.05% di accuratezza base;
● alta velocità di misurazione: 15 ms.
Applicazioni principali:
● misura della costante dielettrica.

Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it

Edificio: U5, Piano: Terra, Stanza: T065
Voci tariffario: L.6
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Profilometro a stilo Dektak 8 (Digital Instruments, Veeco)

Il profilometro a stilo Dektak 8 offre una ripetibilità di 7.5 angstrom e 1 sigma per una misurazione precisa dell'altezza di gradini con spessore da meno di 100 angstrom a 262 micron. L'opzione N-Lite permette allo stilo di applicare una forza minima di 0.03 mg (15 mg max), ottimale per la misurazione di film delicati come quelli polimerici. E' possibile misurare la rugosità sia lineare che di superficie (con elaborazione di mappe 3D) con elevata precisione, da superfici molto lisce (meno di 10 Å Ra) a superfici molto ruvide (rugosità di diverse centinaia di micron). Dimensione massima del wafer 20 mm di diametro, spessore massimo del campione 25.4 mm, lunghezza massima di scansione 50 mm, risoluzione verticale 1 Å max. Due stili disponibili, con diametro della punta di 2.5 e 12.5 micron (compatibile con stili di molte altre misure, anche submicrometrici). Per maggiori informazioni visitare il sito internet del Centro MIB-SOLAR: https://mibsolar.unimib.it/servizi-per-aziende-e-centri-di-ricerca/

Edificio: U5, Piano: Terra, Stanza: T057
Responsabile scientifico: BOLDRINI CHIARA LILIANA
Voci tariffario: F.15
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Radio- e termo-luminescenza

Misure di radio- e termo-luminescenza risolte in lunghezza d’onda e in funzione della temperatura (10-320 K). Il campione indagato viene irraggiato con raggi X (di energia fra 10 e 32 keV) a temperatura controllata fra 10 e 320 K. Viene misurata la luce emessa a temperatura costante (radio-luminescenza) o durante una rampa di temperatura crescente (termo-luminescenza). In entrambe le configurazioni viene valutato anche lo spettro di emissione della luce emessa.

Edificio: U5, Piano: 1, Stanza: 1105
Responsabile scientifico: VEDDA ANNA GRAZIELLA
Voci tariffario: L.8; L.9
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Reometro Anton Paar MCR 92

Misure reologiche e analisi dinamico-meccaniche

Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T068
Responsabile scientifico: SIMONUTTI ROBERTO
Voci tariffario: J.8
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Reometro Kinexus Pro+

Reometro Kinexus Pro+

Edificio: Comodato, Piano: , Stanza: Comodato
Responsabile scientifico: MUSTARELLI PIERCARLO
Voci tariffario: W.2
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