Equipments

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Micro-Raman a triplo stadio.

La spettroscopia Raman è una tecnica ottica per accedere alle informazioni vibrazionali dei materiali. Attraverso queste informazioni è possibile risalire a diverse proprietà dei materiali, come la cristallinità, la fase, la composizione, lo stato di deformazione, la temperatura, e molte altre. E' utilizzabile anche con liquidi e gas. Queste informazioni possono essere acquisite a livello microscopico con una risoluzione inferiore al milionesimo di metro.

Specifiche tecniche. Il sistema è composto da uno spettrografo accoppiato a un doppio premonocromatore in sottrattivo. Range spettrale: 240 – 550 nm nominale con diverse sorgenti di eccitazione disponibili. Acquisizione di spettri a partire da pochi cm-1 di separazione spettrale dal laser di eccitazione; risoluzione spaziale limitata da diffrazione (< 1 µm); modalità confocale disponibile; stage motorizzato XY con passo 0.1 µm.

Edificio: U5, Piano: 1, Stanza: 1075
Responsabile scientifico: BONERA EMILIANO
Voci tariffario: F.13; F.14
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Micro-spettrometro Raman Labram (Dilor – JobinYvon)

Il micro-spettrometro Raman Labram Dilor è in configurazione back scattering ed è accoppiato confocalmente ad un microscopio. Il microscopio (BX40, Olympus) permette di analizzare selettivamente i campioni su scala micrometrica. I diversi obiettivi di cui è equipaggiato permettono sia di selezionare una area del campione di diversa grandezza sia di fare analisi a diversa profondità come nel caso di campioni multistrato, grazie alla diversa apertura numerica degli obbiettivi.
Caratteristiche:
● sorgenti laser: Ar+ a 488 nm (massima potenza 50 mW), He-Ne a 633 nm (massima potenza 20mW);
● portacampioni: stage xy motorizzato caratterizzato da una risoluzione laterale di circa 1 μm e quella verticale fino a 2 μm;
● obiettivi microscopio: 10X (0,25NA), 20X (0,4 NA), 50X (0,7 NA), 100 X (0,9 NA), 50X-LWD (long work distance, 0.75 NA);
● risoluzione dello spettrometro: 1 cm-1.
Configurazioni disponibili:
● misure a temperatura variabile (4 K ÷ 500 K) e misure di micro-luminescenza eccitata a 488 nm e 633 nm.
Applicazioni principali:
● studio di materiali per applicazioni in fotonica e optoelettronica;
● riconoscimento di fasi cristalline di pietre di interesse gemmologico;
● riconoscimento di polimeri;
● caratterizzazione di materiali a base di carbonio (carbon black, grafite, grafene, nanotubi, carbonio amorfo, diamante);
● determinazione di pigmenti inorganici;
● studio in situ e in operando di celle a combustibile e batterie.

Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it

Edificio: U5, Piano: 1, Stanza: 1100
Responsabile scientifico: PALEARI ALBERTO MARIA FELICE , LORENZI ROBERTO
Voci tariffario: L.2
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Microcalorimetro Micro DSCVII CS Evolution/IGA

Misure calorimetriche gas-solido: apparato per misure di entalpia di interazione della CO2 con matrici porose.

Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T066
Responsabile scientifico: COMOTTI ANGIOLINA
Voci tariffario: R.1
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Microscopio a forza atomica (AFM) Nanoscope V (Bruker)

Lo strumento in dotazione è un Nanoscope V Multimode Atomic Force Microscope (Veeco), equipaggiato con scanner PZT per scansioni da 5 nm a 140 micron e un rivelatore ottico con fotodiodo quattro quadranti. Si usano diverse miscroscopie a scansione di sonda, principalmente microscopia a forza atomica, per caratterizzare la morfologia superficiale dei campioni e altre grandezze su scala micrometrica e nanometrica.

Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T072
Responsabile scientifico: SASSELLA ADELE
Voci tariffario: I.1; I.2
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Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) JEOL JEM 2100 Plus

ha una ha una sorgente in LaB6 e può lavorare a tensioni di accelerazioni comprese tra 80 e 200 kV. I pezzi polari per alta risoluzione di cui è dotato lo strumento permettono una risoluzione spaziale di 0,24 nm, che unitamente all’ampio range di tilt (+/- 45° con un porta-campioni doppio tilt di tipo standard), lo rendono estremamente versatile ed adatto a diversi tipi di indagine.

Edificio: U3, Piano: -2, Stanza: 2i45
Responsabile scientifico: CAPITANI GIANCARLO
Voci tariffario: P4
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Microscopio elettronico a trasmissione Jeol JEM1220 (120kV)

Osservazione ultrastruttura campioni biologici, nanoparticelle

Edificio: U1, Piano: -2, Stanza: 2i41
Responsabile scientifico: MANTECCA PARIDE
Voci tariffario: P3
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Molecular Beam Epitaxy con Sorgente al Plasma di Azoto

Sistema per epitassia da fasci molecolari con sorgente al plasma di azoto ad alta densità

Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T070A
Responsabile scientifico: SANGUINETTI STEFANO
Voci tariffario: U.1; U.2
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Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto

Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto Anton Paar

Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T073
Responsabile scientifico: TAVAZZI SILVIA
Voci tariffario: B.2
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NETZSCH DMA 242E

Strumento per Dynamical Mechanical Analysis

Edificio: Comodato, Piano: , Stanza: Comodato
Responsabile scientifico: MUSTARELLI PIERCARLO
Voci tariffario: W.3
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Ponte di impedenza per misure RLC e di costante dielettrica

Misuratore RLC (Resistenza, Induttanza, Capacità) di precisione dotato di accessorio per la misura della costante dielettrica di materiali nell’intervallo 20 Hz – 1 MHz.
Caratteristiche tecniche:
● da 20 Hz a 1 MHz test range;
● 0.05% di accuratezza base;
● alta velocità di misurazione: 15 ms.
Applicazioni principali:
● misura della costante dielettrica.

Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it

Edificio: U5, Piano: Terra, Stanza: T065
Voci tariffario: L.6
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