Grandi attrezzature di ricerca

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  • AFM Nanoscope V (Digital Instrument, ora Bruker)

    Lo strumento in dotazione è un Nanoscope V Multimode Atomic Force Microscope (Veeco), equipaggiato con scanner PZT per scansioni da 5 nm a 140 micron e un rivelatore ottico con fotodiodo quattro quadranti. Si usano diverse miscroscopie a scansione di sonda, principalmente microscopia a forza atomica, per caratterizzare la morfologia superficiale dei campioni e altre grandezze su scala micrometrica e nanometrica.
    Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T072
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  • Analizzatore Parametrico 4210-CVU

    Strumentazione per misure elettriche di capacità-voltaggio
    Edificio: U5, Piano: 1, Stanza: 1097
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  • Analizzatore di assorbimento di vapore acqueo

    Strumento per la datazione con reidrossilazione (ceramics rehydroxilation dating)
    Edificio: U5, Piano: 1, Stanza: 1105
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    A.7
  • Apparato per epitassia da fasci molecolari organici

    Crescita di film sottili organici in condizioni controllate
    Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T044
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  • Cluster Ibrido in architettura X86/CPU

    Infrastruttura di High Performance Computing con le seguent caratteristiche tecniche: 648 Intel Xeon E5-2680v3 processor cores e 840 Intel Xeon E5-2690v4 processor cores per un totale di circa 60 TeraFLOPS. I nodi sono interconnessi tramite rete a 56Gbit/sec (FDR Infiniband).
    Edificio: U5, Piano: terra, Stanza: PT ESTERNO
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    Utenti interni
  • Criostato magnetico per spettroscopia magneto-ottica

    Spettroscopia ottica ed elettrica sotto intenso campo magnetico e a bassa temperatura
    Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T064
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  • Diffrattometro a raggi X RAPID II Rigaku per cristallo singolo

    Acquisizione della figura di diffrazione di cristalli singoli organici ed inorganici allo scopo di: 1) determinare i parametri della cella elementare ed il gruppo spaziale; 2) ottenere le coordinate atomiche nel solido attraverso la risoluzione della struttura. Il diffrattometro è dotato di: i) rivelatore image plate curvo da 460 x 256 mm2 con pixel da 100 μm, fotomoltiplicatore per la lettura delle intensità diffratte, movimenti goniometrici χ e φ, tubo a raggi X con anticatodo al molibdeno, monocromatore SHINE per incrementare il flusso di raggi X, telecamera per la centratura ottica del campione, personal computer per il controllo dello strumento e per l’elaborazione dei dati; ii) criostato Oxford Cryosystems N700 Plus per il controllo della temperatura del campione da 80 a 500 K; iii) software di gestione dello strumento CrystalClear; iv) software per la riduzione dati, la risoluzione ed il raffinamento strutturale CrystalStructure; v) software per l’acquisizione e l’elaborazione di dati di diffrazione da polveri XRD.
    Edificio: U5, Piano: 1, Stanza: 1061
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  • Diffrattometro a raggi X Rigaku SmartLab SE 2D

    Misure di diffrazione di polveri e film policristallini.
    Edificio: U5, Piano: 1, Stanza: 1047
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  • Diffrattometro per polveri MINIFLEX 600 HR

    Analisi di fase qualitativa e quantitativa in composti policristallini
    Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T046
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  • Ellissometro spettroscopico VASE (Woollam Inc. Corp.)

    Misure di ellissometria spettroscopica in riflessione e in trasmissione (intervallo spettrale 190 nm - 1700 nm)
    Edificio: U5, Piano: 0, Stanza: T044
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