Attrezzature per la ricerca
In questa pagina è riportato l'elenco delle grandi attrezzature presenti nei laboratori del Dipartimento di Scienza dei Materiali. Le informazioni, compilate a cura del docente responsabile di ciascuna strumentazione, sono estratte da IRIS-BOA, la piattaforma di gestione delle attività di ricerca e terza missione.
OCT REVO NX80 FC
Tomografo a coerenza ottica per analisi del fondo oculare combinato con Fundus Camera e biometro oculare
Ponte di impedenza per misure RLC e di costante dielettrica
Misuratore RLC (Resistenza, Induttanza, Capacità) di precisione dotato di accessorio per la misura della costante dielettrica di materiali nell’intervallo 20 Hz – 1 MHz.
Caratteristiche tecniche:
● da 20 Hz a 1 MHz test range;
● 0.05% di accuratezza base;
● alta velocità di misurazione: 15 ms.
Applicazioni principali:
● misura della costante dielettrica.
Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it
Potenziostato con modulo FRA per spettroscopia di impedenza elettrochimica
Potenziostato/galvanostato Biologic SP-240 per la caratterizzazione elettrochimica di dispositivi o molecole (ciclovoltammetria, cronoamperometria, cronopotenziometria, tecniche impulsate) dotato di modulo FRA per misure di spettroscopia di impedenza elettrochimica su dispositivi solari (DSSC, celle a CZTS o a perovskite) per lo studio dei fenomeni resistivi alle interfacce. Possibilità di effettuare le misure al buio o sotto illuminazione (sia con una sorgente bianca che sotto luce solare simulata). Con un range di corrente fino a 4 Ampere, questo potenziostato offre caratteristiche quali modalità flottante, filtraggio analogico, scheda di calibrazione integrata e 9 larghezze di banda di stabilità per un miglior controllo della cella elettrochimica. Le principali caratteristiche tecniche includono:
Tensione: Compliance ±12 V; Control voltage ±10 V; Voltage resolution: 1 µV on 60 mV range
Corrente: misura da 4 A a 10 nA; corrente massima ±4 A; risoluzione 760 fA
EIS: range di frequenze da 7 MHz (3%, 3°) fino a 10 µHz; 3 MHz (1%, 1°); EIS quality indicators calcolati dal software
Per ulteriori informazioni visitare il sito internet del Centro MIB-SOLAR: https://mibsolar.unimib.it/servizi-per-aziende-e-centri-di-ricerca/
Profilometro a stilo Dektak 8 (Digital Instruments, Veeco)
Il profilometro a stilo Dektak 8 offre una ripetibilità di 7.5 angstrom e 1 sigma per una misurazione precisa dell'altezza di gradini con spessore da meno di 100 angstrom a 262 micron. L'opzione N-Lite permette allo stilo di applicare una forza minima di 0.03 mg (15 mg max), ottimale per la misurazione di film delicati come quelli polimerici. E' possibile misurare la rugosità sia lineare che di superficie (con elaborazione di mappe 3D) con elevata precisione, da superfici molto lisce (meno di 10 Å Ra) a superfici molto ruvide (rugosità di diverse centinaia di micron). Dimensione massima del wafer 20 mm di diametro, spessore massimo del campione 25.4 mm, lunghezza massima di scansione 50 mm, risoluzione verticale 1 Å max. Due stili disponibili, con diametro della punta di 2.5 e 12.5 micron (compatibile con stili di molte altre misure, anche submicrometrici). Per maggiori informazioni visitare il sito internet del Centro MIB-SOLAR: https://mibsolar.unimib.it/servizi-per-aziende-e-centri-di-ricerca/
Radio- e termo-luminescenza
Misure di radio- e termo-luminescenza risolte in lunghezza d’onda e in funzione della temperatura (10-320 K). Il campione indagato viene irraggiato con raggi X (di energia fra 10 e 32 keV) a temperatura controllata fra 10 e 320 K. Viene misurata la luce emessa a temperatura costante (radio-luminescenza) o durante una rampa di temperatura crescente (termo-luminescenza). In entrambe le configurazioni viene valutato anche lo spettro di emissione della luce emessa.
Reometro Anton Paar MCR 92
Misure reologiche e analisi dinamico-meccaniche
Reometro Kinexus Pro+
Reometro Kinexus Pro+
Rifrattometro a prisma Metricon 2010
Rifrattometro a prisma accoppiato per misure di indice di rifrazione di materiali a alta precisione. Il sistema è in grado di misurare indice di rifrazione inferiore a 2,5 e, per strati sottili, può misurare sia l'indice di rifrazione sia lo spessore dello strato sottile.
Risonanza Magnetica mediante Rilevazione Ottica (ODMR)
La tecnica di spettroscopia di Risonanza Magnetica mediante Rilevazione Ottica (ODMR) è basata sui fenomeni di fotoluminescenza dipendenti dalla spin elettronico e permette di rilevare specie paramagnetiche. A differenza della più nota tecnica di risonanza paramagnetica elettronica (EPR) o risonanza di spin elettronico (ESR) consente di ottenere una sensibilità notevolmente più elevata permettendo lo studio e la caratterizzazione di film ultra-sottili e di campioni disponibili in quantità estremamente ridotte nello stato liquido, polvere o cristalli singoli.
Le caratteristiche tecniche principali sono:
• sorgenti laser: blu, rosso e verde con elevata stabilità,
• rilevazione della fluorescenza nell’intervallo 350 – 100 nm in modalità fotodiodo o fotovoltaico.
• obiettivi con ingrandimento 10x e 60x
• frequenza delle micro-onde programmabile da 3 MHz a 4 GHz.
• campo magnetico variabile e magnete permanente (500mT).
• temperatura ambiente
• set-up compatto e portatile.
L’ ODMR trova applicazione in diversi settori. Alcuni esempi sono:
• rilevazione di radicali in alimenti, composti chimici e biologici.
• rilevazione di stati di tripletto in molecole organiche.
• rilevazione di impurezze magnetiche e identificazione di tracce di materiali magnetici in mineralogia.
• studio dei meccanismi responsabili della inefficienza delle celle solari e dei LED
• studio di difetti in semiconduttori organici e inorganici.
• rilevazione di campi magnetici ed elettrici in ambienti sensibili.
Risonanza paramagnetica elettronica (EPR) Bruker EMX
Spettroscopia di risonanza di spin elettronico Bruker EMX 10/12 equipaggiata con: Microwave X Band, Microwave Q Band, Oxford Cryostat operante tra 4 e 300 K. Funzioni Specifiche: misure ESR di campioni in fase solida o liquida a temperature comprese fra 4 e 300 K, misure di spin-trap, misure con campioni in alto vuoto (p<1e-5 mbar) o in atmosfera controllata.
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