Attrezzature per la ricerca
In questa pagina è riportato l'elenco delle grandi attrezzature presenti nei laboratori del Dipartimento di Scienza dei Materiali. Le informazioni, compilate a cura del docente responsabile di ciascuna strumentazione, sono estratte da IRIS-BOA, la piattaforma di gestione delle attività di ricerca e terza missione.
Microscopio a forza atomica
Microscopio a forza atomica per l'analisi delle superfici di materiali a semiconduttore
Microscopio a forza atomica (AFM) Nanoscope V (Bruker)
Lo strumento in dotazione è un Nanoscope V Multimode Atomic Force Microscope (Veeco), equipaggiato con scanner PZT per scansioni da 5 nm a 140 micron e un rivelatore ottico con fotodiodo quattro quadranti. Si usano diverse miscroscopie a scansione di sonda, principalmente microscopia a forza atomica, per caratterizzare la morfologia superficiale dei campioni e altre grandezze su scala micrometrica e nanometrica.
Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) JEOL JEM 2100 Plus
ha una ha una sorgente in LaB6 e può lavorare a tensioni di accelerazioni comprese tra 80 e 200 kV. I pezzi polari per alta risoluzione di cui è dotato lo strumento permettono una risoluzione spaziale di 0,24 nm, che unitamente all’ampio range di tilt (+/- 45° con un porta-campioni doppio tilt di tipo standard), lo rendono estremamente versatile ed adatto a diversi tipi di indagine.
Microscopio elettronico a trasmissione Jeol JEM1220 (120kV)
Osservazione ultrastruttura campioni biologici, nanoparticelle
Molecular Beam Epitaxy con Sorgente al Plasma di Azoto
Sistema per epitassia da fasci molecolari con sorgente al plasma di azoto ad alta densità
Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto
Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto Anton Paar
NETZSCH DMA 242E
Strumento per Dynamical Mechanical Analysis
OCT REVO NX80 FC
Tomografo a coerenza ottica per analisi del fondo oculare combinato con Fundus Camera e biometro oculare
Ponte di impedenza per misure RLC e di costante dielettrica
Misuratore RLC (Resistenza, Induttanza, Capacità) di precisione dotato di accessorio per la misura della costante dielettrica di materiali nell’intervallo 20 Hz – 1 MHz.
Caratteristiche tecniche:
● da 20 Hz a 1 MHz test range;
● 0.05% di accuratezza base;
● alta velocità di misurazione: 15 ms.
Applicazioni principali:
● misura della costante dielettrica.
Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it
Potenziostato con modulo FRA per spettroscopia di impedenza elettrochimica
Potenziostato/galvanostato Biologic SP-240 per la caratterizzazione elettrochimica di dispositivi o molecole (ciclovoltammetria, cronoamperometria, cronopotenziometria, tecniche impulsate) dotato di modulo FRA per misure di spettroscopia di impedenza elettrochimica su dispositivi solari (DSSC, celle a CZTS o a perovskite) per lo studio dei fenomeni resistivi alle interfacce. Possibilità di effettuare le misure al buio o sotto illuminazione (sia con una sorgente bianca che sotto luce solare simulata). Con un range di corrente fino a 4 Ampere, questo potenziostato offre caratteristiche quali modalità flottante, filtraggio analogico, scheda di calibrazione integrata e 9 larghezze di banda di stabilità per un miglior controllo della cella elettrochimica. Le principali caratteristiche tecniche includono:
Tensione: Compliance ±12 V; Control voltage ±10 V; Voltage resolution: 1 µV on 60 mV range
Corrente: misura da 4 A a 10 nA; corrente massima ±4 A; risoluzione 760 fA
EIS: range di frequenze da 7 MHz (3%, 3°) fino a 10 µHz; 3 MHz (1%, 1°); EIS quality indicators calcolati dal software
Per ulteriori informazioni visitare il sito internet del Centro MIB-SOLAR: https://mibsolar.unimib.it/servizi-per-aziende-e-centri-di-ricerca/