Grandi attrezzature di ricerca
Diffrattometro a raggi X RAPID II Rigaku per cristallo singolo
Lo strumento permette di acquisire la figura di diffrazione di cristalli singoli (dimensioni min e max 0,1-0,5 mm) organici e inorganici allo scopo di: 1) determinare i parametri della cella elementare e il gruppo spaziale; 2) raccogliere i dati necessari a ottenere 3) le coordinate atomiche nel solido cristalllino attraverso 4) la risoluzione della struttura. Il diffrattometro è dotato di: rivelatore image plate curvo, fotomoltiplicatore per la lettura delle intensità diffratte, movimenti goniometrici, tubo a raggi X con anticatodo al molibdeno, personal computer per il controllo dello strumento e per l’elaborazione dei dati, criostato Oxford Cryosystems N700 Plus per il controllo della temperatura del campione da 80 a 490 K, software per la gestione dello strumento e per l'elaborazione dei dati. Inoltre è presente il software per l’acquisizione di dati di diffrazione da polveri microcristalline in capillare.
Diffrattometro a raggi X Rigaku SmartLab SE 2D
Misure di diffrazione di polveri e film policristallini.
Diffrattometro per polveri MINIFLEX 600 HR
Analisi di fase qualitativa e quantitativa in composti policristallini
Ellissometro spettroscopico VASE (Woollam Inc. Corp.)
Ellissometro spettroscopico VASE (Woollam Inc. Corporation) ad angolo di incidenza variabile dotato di autoretarder e ottiche di focalizzazione dello spot (~ 200 micron) per la determinazione delle funzioni ottiche di campioni solidi.
Range spettrale: 193 nm - 1700 nm (UV-Vis-NIR)
Software di analisi: WVASE32 (Woollam Inc. Coroporation)
Configurazioni disponibili: Ellissometria in trasmissione, Ellissometria in riflessione, Misure di riflettività speculare a singolo raggio (angolo di incidenza: 15°/75°)
Evaporatore a fascio elettronico
Preparazione di film sottili inorganici
Femtosecond laser PHAROS
Laser amplificato per emissione di impulsi di luce a femtosecondi nell'infrarosso (lunghezza d'onda = 1030 nm) ad alta potenza (10 W) ed elevato rate di ripetizione (600 kHz)
Laser amplificato a impulsi ultraveloci
Laser amplificato a impulsi ultraveloci
Macchina Zwick 1445 Universal con accessori
Misure meccaniche di materie plastiche ed elastomeri mediante dinamometro Zwick in trazione o compressione: determinazione del modulo elastico, carico a rottura, deformazione a rottura.
Menhir
Server GPU NVIDIA A100 PowerEdge XE8545
MgO-Redox, Cluster di 21 server Opteron per il calcolo parallelo (1344 cores)
Cluster multiprocessore per calcolo parallelo