Grandi attrezzature di ricerca
Menhir
Server GPU NVIDIA A100 PowerEdge XE8545
MgO-Redox, Cluster di 21 server Opteron per il calcolo parallelo (1344 cores)
Cluster multiprocessore per calcolo parallelo
Micro FTIR-ATR Nicolet iN10
Spettrometro FTIR accoppiato ad un microscopio. Il sistema permette di raggiungere un’alta risoluzione spaziale e di analizzare anche campioni di piccole dimensioni (~30 micron). È possibile analizzare campioni opachi o spessi in modalità micro-ATR (Total Attenuated Reflection).
Caratteristiche:
● range: 400 ÷ 4000 cm-1;
● rivelatore: doppio rivelatore: DTGS e MCT (raffreddabile ad azoto liquido);
● Illuminazione LED separata per la configurazione in trasmissione e riflessione.
Configurazioni disponibili:
● misure in riflessione totalmente attenuata (ATR) con punta di germanio (diametro 350 µm).
Applicazioni principali:
● studio di spettri vibrazionali di ossidi;
● riconoscimento di materiali polimerici.
Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it
Micro-Raman a triplo stadio.
La spettroscopia Raman è una tecnica ottica per accedere alle informazioni vibrazionali dei materiali. Attraverso queste informazioni è possibile risalire a diverse proprietà dei materiali, come la cristallinità, la fase, la composizione, lo stato di deformazione, la temperatura, e molte altre. E' utilizzabile anche con liquidi e gas. Queste informazioni possono essere acquisite a livello microscopico con una risoluzione inferiore al milionesimo di metro.
Specifiche tecniche. Il sistema è composto da uno spettrografo accoppiato a un doppio premonocromatore in sottrattivo. Range spettrale: 240 – 550 nm nominale con diverse sorgenti di eccitazione disponibili. Acquisizione di spettri a partire da pochi cm-1 di separazione spettrale dal laser di eccitazione; risoluzione spaziale limitata da diffrazione (< 1 µm); modalità confocale disponibile; stage motorizzato XY con passo 0.1 µm.
Micro-spettrometro Raman Labram (Dilor – JobinYvon)
Il micro-spettrometro Raman Labram Dilor è in configurazione back scattering ed è accoppiato confocalmente ad un microscopio. Il microscopio (BX40, Olympus) permette di analizzare selettivamente i campioni su scala micrometrica. I diversi obiettivi di cui è equipaggiato permettono sia di selezionare una area del campione di diversa grandezza sia di fare analisi a diversa profondità come nel caso di campioni multistrato, grazie alla diversa apertura numerica degli obbiettivi.
Caratteristiche:
● sorgenti laser: Ar+ a 488 nm (massima potenza 50 mW), He-Ne a 633 nm (massima potenza 20mW);
● portacampioni: stage xy motorizzato caratterizzato da una risoluzione laterale di circa 1 μm e quella verticale fino a 2 μm;
● obiettivi microscopio: 10X (0,25NA), 20X (0,4 NA), 50X (0,7 NA), 100 X (0,9 NA), 50X-LWD (long work distance, 0.75 NA);
● risoluzione dello spettrometro: 1 cm-1.
Configurazioni disponibili:
● misure a temperatura variabile (4 K ÷ 500 K) e misure di micro-luminescenza eccitata a 488 nm e 633 nm.
Applicazioni principali:
● studio di materiali per applicazioni in fotonica e optoelettronica;
● riconoscimento di fasi cristalline di pietre di interesse gemmologico;
● riconoscimento di polimeri;
● caratterizzazione di materiali a base di carbonio (carbon black, grafite, grafene, nanotubi, carbonio amorfo, diamante);
● determinazione di pigmenti inorganici;
● studio in situ e in operando di celle a combustibile e batterie.
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Microcalorimetro Micro DSCVII CS Evolution/IGA
Misure calorimetriche gas-solido: apparato per misure di entalpia di interazione della CO2 con matrici porose.
Microscopio a forza atomica (AFM) Nanoscope V (Bruker)
Lo strumento in dotazione è un Nanoscope V Multimode Atomic Force Microscope (Veeco), equipaggiato con scanner PZT per scansioni da 5 nm a 140 micron e un rivelatore ottico con fotodiodo quattro quadranti. Si usano diverse miscroscopie a scansione di sonda, principalmente microscopia a forza atomica, per caratterizzare la morfologia superficiale dei campioni e altre grandezze su scala micrometrica e nanometrica.
Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) JEOL JEM 2100 Plus
ha una ha una sorgente in LaB6 e può lavorare a tensioni di accelerazioni comprese tra 80 e 200 kV. I pezzi polari per alta risoluzione di cui è dotato lo strumento permettono una risoluzione spaziale di 0,24 nm, che unitamente all’ampio range di tilt (+/- 45° con un porta-campioni doppio tilt di tipo standard), lo rendono estremamente versatile ed adatto a diversi tipi di indagine.
Microscopio elettronico a trasmissione Jeol JEM1220 (120kV)
Osservazione ultrastruttura campioni biologici, nanoparticelle
Molecular Beam Epitaxy con Sorgente al Plasma di Azoto
Sistema per epitassia da fasci molecolari con sorgente al plasma di azoto ad alta densità
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