Spettrometro FTIR accoppiato ad un microscopio, il sistema è in grado di raggiungere una risoluzione spaziale di 30 micron, utilizzando un rivelatore DTGS o MCT raffreddato ad azoto liquido. Sono possibili anche tecniche di micro-ATR con cristallo di germanio, per misurare campioni opachi o spessi. Il microscopio FTIR può essere utilizzato su campioni di piccole dimensioni (~30 micron), consentendo l'identificazione e la quantificazione di piccoli campioni sia i riflessione sia in trasmissione.

La spettroscopia Raman è una tecnica ottica per accedere alle informazioni vibrazionali dei materiali. Attraverso queste informazioni è possibile risalire a diverse proprietà dei materiali, come la cristallinità, la fase, la composizione, lo stato di deformazione, la temperatura, e molte altre. E' utilizzabile anche con liquidi e gas. Queste informazioni possono essere acquisite a livello microscopico con una risoluzione inferiore al milionesimo di metro.

Specifiche tecniche. Il sistema è composto da uno spettrografo accoppiato a un doppio premonocromatore in sottrattivo. Range spettrale: 240 – 550 nm nominale con diverse sorgenti di eccitazione disponibili. Acquisizione di spettri a partire da pochi cm-1 di separazione spettrale dal laser di eccitazione; risoluzione spaziale limitata da diffrazione (< 1 µm); modalità confocale disponibile; stage motorizzato XY con passo 0.1 µm.

Caratteristiche tecniche: i) Configurazione in backscattering; ii) Sorgenti: laser Ar+ a 488 nm, laser He-Ne a 633 nm; iii) Risoluzione spettrale: 1 cm-1; iv) Ottica confocale; v) Risoluzione laterale: ~ 1 μm; vi) Risoluzione verticale: fino a 2 μm. Configurazioni disponibili: 1) Misure a temperatura variabile (4 K ÷ 500 K); 2) Misure di micro-luminescenza eccitata a 488 nm e 633 nm.

Misure calorimetriche gas-solido: apparato per misure di entalpia di interazione della CO2 con matrici porose.

Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto Anton Paar

Strumento per Dynamical Mechanical Analysis

Misuratore LCR di precisione dotato di accessorio per la misura della costante dielettrica di materiali nell'intervallo 20 Hz - 1 MHz

Misure di rugosità, spessore di film sottili e parametri geometrici

Misure di radio- e termo-luminescenza risolte in lunghezza d’onda e in funzione della temperatura (10-320 K). Il campione indagato viene irraggiato con raggi X (di energia fra 10 e 32 keV) a temperatura controllata fra 10 e 320 K. Viene misurata la luce emessa a temperatura costante (radio-luminescenza) o durante una rampa di temperatura crescente (termo-luminescenza). In entrambe le configurazioni viene valutato anche lo spettro di emissione della luce emessa.

Misure reologiche e analisi dinamico-meccaniche