Grandi attrezzature di ricerca
In questa pagina è riportato l'elenco delle grandi attrezzature presenti nei laboratori del Dipartimento di Scienza dei Materiali. Le informazioni, compilate a cura del docente responsabile di ciascuna strumentazione, sono estratte da IRIS-BOA, la piattaforma di gestione delle attività di ricerca e terza missione.
Micro-Raman a triplo stadio.
La spettroscopia Raman è una tecnica ottica per accedere alle informazioni vibrazionali dei materiali. Attraverso queste informazioni è possibile risalire a diverse proprietà dei materiali, come la cristallinità, la fase, la composizione, lo stato di deformazione, la temperatura, e molte altre. E' utilizzabile anche con liquidi e gas. Queste informazioni possono essere acquisite a livello microscopico con una risoluzione inferiore al milionesimo di metro.
Specifiche tecniche. Il sistema è composto da uno spettrografo accoppiato a un doppio premonocromatore in sottrattivo. Range spettrale: 240 – 550 nm nominale con diverse sorgenti di eccitazione disponibili. Acquisizione di spettri a partire da pochi cm-1 di separazione spettrale dal laser di eccitazione; risoluzione spaziale limitata da diffrazione (< 1 µm); modalità confocale disponibile; stage motorizzato XY con passo 0.1 µm.
Micro-spettrometro Raman Labram (Dilor – JobinYvon)
Il micro-spettrometro Raman Labram Dilor è in configurazione back scattering ed è accoppiato confocalmente ad un microscopio. Il microscopio (BX40, Olympus) permette di analizzare selettivamente i campioni su scala micrometrica. I diversi obiettivi di cui è equipaggiato permettono sia di selezionare una area del campione di diversa grandezza sia di fare analisi a diversa profondità come nel caso di campioni multistrato, grazie alla diversa apertura numerica degli obbiettivi.
Caratteristiche:
● sorgenti laser: Ar+ a 488 nm (massima potenza 50 mW), He-Ne a 633 nm (massima potenza 20mW);
● portacampioni: stage xy motorizzato caratterizzato da una risoluzione laterale di circa 1 μm e quella verticale fino a 2 μm;
● obiettivi microscopio: 10X (0,25NA), 20X (0,4 NA), 50X (0,7 NA), 100 X (0,9 NA), 50X-LWD (long work distance, 0.75 NA);
● risoluzione dello spettrometro: 1 cm-1.
Configurazioni disponibili:
● misure a temperatura variabile (4 K ÷ 500 K) e misure di micro-luminescenza eccitata a 488 nm e 633 nm.
Applicazioni principali:
● studio di materiali per applicazioni in fotonica e optoelettronica;
● riconoscimento di fasi cristalline di pietre di interesse gemmologico;
● riconoscimento di polimeri;
● caratterizzazione di materiali a base di carbonio (carbon black, grafite, grafene, nanotubi, carbonio amorfo, diamante);
● determinazione di pigmenti inorganici;
● studio in situ e in operando di celle a combustibile e batterie.
Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it
Microcalorimetro Micro DSCVII CS Evolution/IGA
Misure calorimetriche gas-solido: apparato per misure di entalpia di interazione della CO2 con matrici porose.
Microscopio a forza atomica (AFM) Nanoscope V (Bruker)
Lo strumento in dotazione è un Nanoscope V Multimode Atomic Force Microscope (Veeco), equipaggiato con scanner PZT per scansioni da 5 nm a 140 micron e un rivelatore ottico con fotodiodo quattro quadranti. Si usano diverse miscroscopie a scansione di sonda, principalmente microscopia a forza atomica, per caratterizzare la morfologia superficiale dei campioni e altre grandezze su scala micrometrica e nanometrica.
Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) JEOL JEM 2100 Plus
ha una ha una sorgente in LaB6 e può lavorare a tensioni di accelerazioni comprese tra 80 e 200 kV. I pezzi polari per alta risoluzione di cui è dotato lo strumento permettono una risoluzione spaziale di 0,24 nm, che unitamente all’ampio range di tilt (+/- 45° con un porta-campioni doppio tilt di tipo standard), lo rendono estremamente versatile ed adatto a diversi tipi di indagine.
Microscopio elettronico a trasmissione Jeol JEM1220 (120kV)
Osservazione ultrastruttura campioni biologici, nanoparticelle
Molecular Beam Epitaxy con Sorgente al Plasma di Azoto
Sistema per epitassia da fasci molecolari con sorgente al plasma di azoto ad alta densità
Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto
Nano-tribometro per analisi su lenti a contatto Anton Paar
NETZSCH DMA 242E
Strumento per Dynamical Mechanical Analysis
Ponte di impedenza per misure RLC e di costante dielettrica
Misuratore RLC (Resistenza, Induttanza, Capacità) di precisione dotato di accessorio per la misura della costante dielettrica di materiali nell’intervallo 20 Hz – 1 MHz.
Caratteristiche tecniche:
● da 20 Hz a 1 MHz test range;
● 0.05% di accuratezza base;
● alta velocità di misurazione: 15 ms.
Applicazioni principali:
● misura della costante dielettrica.
Questo strumento fa parte della Rete Interdipartimentale di Spettroscopia - https://rete.spettroscopia.unimib.it
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