Il profilometro a stilo Dektak 8 offre una ripetibilità di 7.5 angstrom e 1 sigma per una misurazione precisa dell'altezza di gradini con spessore da meno di 100 angstrom a 262 micron. L'opzione N-Lite permette allo stilo di applicare una forza minima di 0.03 mg (15 mg max), ottimale per la misurazione di film delicati come quelli polimerici. E' possibile misurare la rugosità sia lineare che di superficie (con elaborazione di mappe 3D) con elevata precisione, da superfici molto lisce (meno di 10 Å Ra) a superfici molto ruvide (rugosità di diverse centinaia di micron). Dimensione massima del wafer 20 mm di diametro, spessore massimo del campione 25.4 mm, lunghezza massima di scansione 50 mm, risoluzione verticale 1 Å max. Due stili disponibili, con diametro della punta di 2.5 e 12.5 micron (compatibile con stili di molte altre misure, anche submicrometrici). Per maggiori informazioni visitare il sito internet del Centro MIB-SOLAR: https://mibsolar.unimib.it/servizi-per-aziende-e-centri-di-ricerca/

Misure di radio- e termo-luminescenza risolte in lunghezza d’onda e in funzione della temperatura (10-320 K). Il campione indagato viene irraggiato con raggi X (di energia fra 10 e 32 keV) a temperatura controllata fra 10 e 320 K. Viene misurata la luce emessa a temperatura costante (radio-luminescenza) o durante una rampa di temperatura crescente (termo-luminescenza). In entrambe le configurazioni viene valutato anche lo spettro di emissione della luce emessa.

Misure reologiche e analisi dinamico-meccaniche

Reometro Kinexus Pro+

Rifrattometro a prisma accoppiato per misure di indice di rifrazione di materiali a alta precisione. Il sistema è in grado di misurare indice di rifrazione inferiore a 2,5 e, per strati sottili, può misurare sia l'indice di rifrazione sia lo spessore dello strato sottile.

La tecnica di spettroscopia di Risonanza Magnetica mediante Rilevazione Ottica (ODMR) è basata sui fenomeni di fotoluminescenza dipendenti dalla spin elettronico e permette di rilevare specie paramagnetiche. A differenza della più nota tecnica di risonanza paramagnetica elettronica (EPR) o risonanza di spin elettronico (ESR) consente di ottenere una sensibilità notevolmente più elevata permettendo lo studio e la caratterizzazione di film ultra-sottili e di campioni disponibili in quantità estremamente ridotte nello stato liquido, polvere o cristalli singoli.
Le caratteristiche tecniche principali sono:
• sorgenti laser: blu, rosso e verde con elevata stabilità,
• rilevazione della fluorescenza nell’intervallo 350 – 100 nm in modalità fotodiodo o fotovoltaico.
• obiettivi con ingrandimento 10x e 60x
• frequenza delle micro-onde programmabile da 3 MHz a 4 GHz.
• campo magnetico variabile e magnete permanente (500mT).
• temperatura ambiente
• set-up compatto e portatile.

L’ ODMR trova applicazione in diversi settori. Alcuni esempi sono:
• rilevazione di radicali in alimenti, composti chimici e biologici.
• rilevazione di stati di tripletto in molecole organiche.
• rilevazione di impurezze magnetiche e identificazione di tracce di materiali magnetici in mineralogia.
• studio dei meccanismi responsabili della inefficienza delle celle solari e dei LED
• studio di difetti in semiconduttori organici e inorganici.
• rilevazione di campi magnetici ed elettrici in ambienti sensibili.

Spettroscopia di risonanza di spin elettronico Bruker EMX 10/12 equipaggiata con: Microwave X Band, Microwave Q Band, Oxford Cryostat operante tra 4 e 300 K. Funzioni Specifiche: misure ESR di campioni in fase solida o liquida a temperature comprese fra 4 e 300 K, misure di spin-trap, misure con campioni in alto vuoto (p<1e-5 mbar) o in atmosfera controllata.

I rilevatori a singolo fotone sono basati su nanofili a superconduttore con elevata efficienza quantica, basso jitter, basso rumore e breve dead time. I rivelatori (8 in un unico sistema criogenico) sono integrati in un criostato a ciclo chiuso automatizzato, offrendo facilità d'uso e prestazioni eleavate nell'intervallo spettrale 800-2000 nm.

Modello: Tescan VEGA TS 5136XM

Caratteristiche tecniche:
Risoluzione: ~ 5 nm
Pressione di lavoro: 5x10-3 ÷ 500 Pa
Dimensioni camera portacampioni: 300 mm (lunghezza) x 250 mm (profondità)x 280 mm (altezza)

Tecniche disponibili:
Elettroni Secondari (SE): informazioni prevalentemente morfologiche
Low Vacuum Secondary Tescan Detector (LVSTD): informazioni morfologiche in pressione variabile (applicazione su materiali non conduttivi o biologici)
Elettroni retrodiffusi (BSE): informazioni morfologiche/composizionali a bassa risoluzione
Electron Beam Induced Current (EBIC): studio di proprietà elettriche delle giunzioni su semiconduttore
Spettroscopia a dispersione di energia di raggi X (X-EDS): informazioni composizionali qualitative e quantitative su elementi
Possibilità di acquisire ed elaborare immagini relative alla distribuzione di elementi all'interno di un'area (mappe)

SEM da banco